阻抗分析仪 IM7587 是 HIOKI 日置推出的一款面向高频电子元件测试的设备。以下是其详细介绍:
主要特点
宽频率测量范围:测量频率为 1MHz~3GHz,可稳定测量高达 3GHz 的阻抗,能满足高频电子元件的特性评估需求。
高速测量:短测量时间为 0.5ms,能够快速检查大量电子元件,有助于提高生产效率。
高与稳定性:测量值偏差低至 0.07%(如 3GHz 测量线圈 1nH 时),基本为 ±0.65% rdg.,相位角 ±0.38°,可降低偏差实现高稳定性测量。
抗干扰性能好:采用贴合基板和 IC 形状的固态屏蔽层,降低了内部的交互耦合现象,提高了抗干扰性能,同时也满足 EMC 的高标准。
体积小巧轻便:主机尺寸为 215W×200H×348D mm,重量为 8.0kg,测试头尺寸仅手掌大小,便于携带和在多种场合使用。
测量参数
可测量 | Z|、L、C、R 等参数,测量参数还包括 Y、θ、Rs(ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 等。
保证范围为 100mΩ~5kΩ,显示范围广泛,如 Z 为 0.00m~9.99999GΩ,Ls、Lp 为 ±(0.00000n~9.99999GH)等。
测量信号电平:功率(dBm)模式为 - 40.0dBm~+1.0dBm,电压(V)模式为 4mV~502mVrms,电流(I)模式为 0.09mA~10.04mArms。
功能特性
具有等效电路分析功能,可通过模拟功能使用推测结果或任意常数来显示频率特性的理想值,使用比较器功能能够确定测量结果是否在判定区域内。
具备接触检查功能,包括 DCR 测量、Hi-Z 筛选、波形判定等。还具有面板读取 / 保存、存储功能、相关补偿等。
接口类型:配备 EXT I/O(处理器)、USB 通讯、U 盘、LAN 接口,RS-232C(选件)、GP-IB(选件),方便与其他设备进行连接和数据传输。
应用领域:广泛应用于电子元件的研发到生产线各领域,如射频元件测试、电感 / 电容参数检测、晶体管与压电材料评估等,也可用于 5G/6G 通信设备调试、新能源汽车电子测试、半导体材料研究等新兴技术研发支持。